Zeiss Crossbeam 540

Zeiss Crossbeam 540 /Foto:Jan Hegermann /MHH
Zeiss Crossbeam 540 /Foto:Jan Hegermann /MHH

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit zusätzlichem Ionenstrahl zur seriellen Abbildung der Blockoberfläche zwecks 3D-Rekonstruktion (Focussed Ion Beam SEM).

Standort: Gebäude I4, Ebene H0, Raum 1260